Niton 分析儀光譜儀的核心技術是能量色散 X 射線熒光（EDXRF）技術。這一技術利用 X 射線與物質相互作用時產生的熒光現象，實現對元素的精確分析。當儀器發射的初級 X 射線束照射到樣品表面時，樣品中的原子吸收 X 射線能量，使其內層電子被激發躍遷到高能級，形成不穩定的激發態。隨后，外層電子迅速填補內層電子留下的空位，在這個過程中釋放出具有特定能量的 X 射線熒光。不同元素的原子結構不同，其產生的 X 射線熒光能量也各不相同，就如同每個人都有指紋一樣。Niton 分析儀光譜儀通過高分辨率硅漂移探測器（SDD）精確測量這些 X 射線熒光的能量和強度，再結合先進的智能算法，能夠在極短的時間內準確識別樣品中所含的元素種類，并精確測定其含量。從周期表中的輕元素鈉（Na）到重元素鈾（U），共 70 余種元素都能被 Niton 分析儀光譜儀敏銳地 “感知" 和分析。這種基于微觀層面的元素分析技術，為各行業提供了深入了解物質組成的有力工具