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      FischerScope MMS測(cè)厚儀六種基本模塊

      FischerScope MMS測(cè)厚儀六種基本模塊

      更新時(shí)間:2024-09-24
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      FischerScope MMS測(cè)厚儀六種基本模塊
      鍍鋅涂層以及鋼板上的涂料;鋁陽(yáng)極氧化涂層(PERMASCOPE®)
      納米涂層(防指紋),太陽(yáng)能電池涂層(薄膜層,CdTe /玻璃),插頭觸點(diǎn)上的金涂層,焊盤(pán)上的焊料,痕量分析,光敏涂層,油和蠟層(BETASCOPE®)
      測(cè)量電路板表面和通孔上的銅涂層(SIGMASCOPE®)
      層壓板或多層的銅厚度,不受電路板制造中的銅涂層(SR-SCOPE®)

      FischerScope MMS測(cè)厚儀六種基本模塊的詳細(xì)資料:

      品牌Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾

      FischerScope MMS測(cè)厚儀六種基本模塊

       

      六種基本的模塊:

      FISCHERSCOPE MMS PEMASCOPE涂層測(cè)厚儀

      FISCHERSCOPE MMS NICKELSCOPE涂層測(cè)厚儀

      FISCHERSCOPE MMS SIGMASCOPE涂層測(cè)厚儀

      FISCHERSCOPE MMS DUPLEX涂層測(cè)厚儀

      FISCHERSCOPE MMS PC涂層測(cè)厚儀

      BFISCHERSCOPE MMS BETASCOPE 涂層測(cè)厚儀

      模塊化設(shè)計(jì)可以在以后升級(jí)儀器到可用更多的方法進(jìn)行測(cè)量。 FISCHERSCOPE MMS涂層測(cè)厚儀的應(yīng)用場(chǎng)合由于采用了多種測(cè)量方法,MMS 可用于電鍍廠,線路板生產(chǎn)廠,汽車(chē)和航空生產(chǎn)廠的多種應(yīng)用場(chǎng)合。

      FISCHERSCOPE MMS涂層測(cè)厚儀是一臺(tái)小巧和極其多用的的臺(tái)式多功能測(cè)量系統(tǒng),有數(shù)據(jù)存儲(chǔ)及數(shù)據(jù)處理能力。使用戶(hù)可以自己配置不同的測(cè)試模塊。FISCHERSCOPE MMS PC2與Windows™CE操作系統(tǒng)的模塊化測(cè)量系統(tǒng)是高精度涂層厚度測(cè)量和材料測(cè)試的理想解決方案。 通過(guò)LAN和USB連接的網(wǎng)絡(luò)功能可以快速集成到質(zhì)量管理體系和自動(dòng)化制造流程中。有

       

      應(yīng)用:

      鍍鋅涂層以及鋼板上的涂料;鋁陽(yáng)極氧化涂層(PERMASCOPE®)
      納米涂層(防指紋),太陽(yáng)能電池涂層(薄膜層,CdTe /玻璃),插頭觸點(diǎn)上的金涂層,焊盤(pán)上的焊料,痕量分析,光敏涂層,油和蠟層(BETASCOPE®)
      測(cè)量電路板表面和通孔上的銅涂層(SIGMASCOPE®)
      層壓板或多層的銅厚度,不受電路板制造中的銅涂層(SR-SCOPE®)的任何影響
      電路板制造中銅阻焊層厚度(PERMASCOPE®)
      汽車(chē)行業(yè)的活塞表面上的石墨涂層或制動(dòng)盤(pán)上的防腐涂層(PERMASCOPE®)
      汽車(chē)行業(yè)的活塞表面(NICKELSCOPE®)上的黑色涂料
      奧氏體或雙相鋼中的鐵素體含量(PERMASCOPE®)
      銅,鋁,鈦等非磁性金屬的導(dǎo)電性(SIGMASCOPE®)

       

      ISCHERSCOPE® X-RAY 型 X 射線熒光測(cè)量系統(tǒng)整體方案:

       FISCHERSCOPE® XUL®
      穩(wěn)定和低成本的X射線熒光測(cè)量?jī)x,用于非破壞性的金屬分析和涂層厚度測(cè)量
       FISCHERSCOPE® XULM®
      X射線熒光測(cè)量?jī)x,用于對(duì)小部件進(jìn)行非破壞性的材料分析和涂鍍層厚度測(cè)量
       FISCHERSCOPE® XAN® 120
      X 射線熒光測(cè)試儀,用于快速、非破壞性的對(duì)黃金和銀合金進(jìn)行分析
       FISCHERSCOPE® XAN® 220
      用于快速無(wú)損分析黃金和銀合金的 X 射線熒光測(cè)量設(shè)備
       FISCHERSCOPE® XAN® 250
      滿(mǎn)足無(wú)損材料分析和涂層厚度測(cè)量zui高要求的通用型X射線熒光測(cè)量設(shè)備
       FISCHERSCOPE® XDL®
      X 射線熒光測(cè)量?jī)x,用于對(duì)功能性涂層、防腐蝕涂層和批量生產(chǎn)的零件進(jìn)行手動(dòng)或自動(dòng)涂層厚度測(cè)
       FISCHERSCOPE® XDLM®
      X射線熒光測(cè)試儀,用于對(duì)電路板、電子元件和批量零件的涂層厚度進(jìn)行手動(dòng)或自動(dòng)測(cè)量,也適用于小型結(jié)構(gòu)
       FISCHERSCOPE® XDAL®
      X 射線熒光測(cè)量?jī)x帶有可編程的 X/Y臺(tái)和Z軸,用于自動(dòng)測(cè)量涂鍍層厚度和材料分析
       FISCHERSCOPE® XDV®-SDD
      滿(mǎn)足高要求的 X 射線熒光測(cè)試儀,帶有可編程的 X/Y 工作臺(tái)和 Z 軸,用于自動(dòng)測(cè)量極薄的涂層和進(jìn)行印痕分析
       FISCHERSCOPE® XDV®-µ
      帶有毛細(xì)管X 光透鏡的 X 射線熒光測(cè)量?jī)x,用于在小零件和結(jié)構(gòu)上自動(dòng)測(cè)量并分析涂層厚度及涂層成分
       FISCHERSCOPE® XUV® 773
      X 射線熒光測(cè)試儀帶有真空室,通用型設(shè)備測(cè)量具有全面的測(cè)量能力
       FISCHERSCOPE® X-RAY-4000
      X 射線熒光測(cè)量系統(tǒng),用于在光滑的和壓印的(包括帶有鑄模接觸面)帶鋼生產(chǎn)工藝中進(jìn)行連續(xù)的在線測(cè)量和分析
       FISCHERSCOPE® X-RAY-5000
      X 射線熒光測(cè)量系統(tǒng),用于在生產(chǎn)工藝中對(duì)較薄的鍍層如 CIGS、CIS 或 CdTe 進(jìn)行連續(xù)的在線測(cè)量和分析
       校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)
      校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn) FISCHERSCOPE® X-RAY 型 X 射線熒光測(cè)量系統(tǒng)的軟件
       WinFTM® 軟件®
      適用于所有 FISCHERSCOPE® X-RAY 型X 射線熒光測(cè)量系統(tǒng)的軟件
       備件
      X-RAY 產(chǎn)品備件

       

       


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