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      Fischer YMP30-S鋁氧化膜致密性測(cè)量?jī)x器

      Fischer YMP30-S鋁氧化膜致密性測(cè)量?jī)x器

      更新時(shí)間:2024-09-25
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      Fischer YMP30-S鋁氧化膜致密性測(cè)量?jī)x器:德國(guó)菲希爾Fischer ANOTEST YMP30-S 是用來(lái)測(cè)試鋁上陽(yáng)極氧化膜致密性的儀器。它按照標(biāo)準(zhǔn)來(lái)測(cè)量導(dǎo)納值。由于其精巧的設(shè)計(jì)而便于在現(xiàn)場(chǎng)使用。測(cè)量范圍為 3 – 200 S,測(cè)量槽直徑為 13 mm,通過(guò)可選的電子參考物質(zhì)校準(zhǔn)儀器。

      Fischer YMP30-S鋁氧化膜致密性測(cè)量?jī)x器的詳細(xì)資料:

      品牌Helmut Fischer/德國(guó)菲希爾價(jià)格區(qū)間面議
      產(chǎn)地類別進(jìn)口應(yīng)用領(lǐng)域電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件

      Fischer YMP30-S鋁氧化膜致密性測(cè)量?jī)x器

       

      ANOTEST YMP30-S簡(jiǎn)介:

      德國(guó)菲希爾Fischer ANOTEST YMP30-S 是用來(lái)測(cè)試鋁上陽(yáng)極氧化膜致密性的儀器。它按照標(biāo)準(zhǔn)來(lái)測(cè)量導(dǎo)納值。由于其精巧的設(shè)計(jì)而便于在現(xiàn)場(chǎng)使用。測(cè)量范圍為 3 – 200 S,測(cè)量槽直徑為 13 mm,通過(guò)可選的電子參考物質(zhì)校準(zhǔn)儀器。我們的耐候性密封質(zhì)量測(cè)試Anotest根據(jù)DIN EN ISO 12373-5以及ASTM B 457-67標(biāo)準(zhǔn)進(jìn)行設(shè)計(jì)。密封質(zhì)量測(cè)試是鋁質(zhì)陽(yáng)極涂層的主要密封質(zhì)量測(cè)試儀。該范圍帶有LCD顯示屏,可以在任何時(shí)間顯示讀數(shù)。這是由專業(yè)人士采用高品質(zhì)材料和良好機(jī)器設(shè)計(jì)的高精度。

      德國(guó)菲希爾Fischer ANOTEST YMP30-S 是用來(lái)測(cè)試鋁上陽(yáng)極氧化膜致密性的儀器。它按照標(biāo)準(zhǔn)來(lái)測(cè)量導(dǎo)納值。由于其精巧的設(shè)計(jì)而便于在現(xiàn)場(chǎng)使用。測(cè)量范圍為 3 – 200 S,測(cè)量槽直徑為 13 mm,通過(guò)可選的電子參考物質(zhì)校準(zhǔn)儀器。

      Fischer YMP30-S鋁氧化膜致密性測(cè)量?jī)x器

      鋁氧化層致密性測(cè)量?jī)xANOTEST YMP30-S特點(diǎn):

      此手持式儀器測(cè)量鋁上陽(yáng)極氧化膜的導(dǎo)納(Y),符合 DIN EN ISO 12373-5 及 ASTM 457-67 標(biāo)準(zhǔn)。

      測(cè)量范圍為 3 – 200 µS,測(cè)量槽直徑為 13 mm。

       

       

      Anotest YMP30-S陽(yáng)極氧化層致密性測(cè)試儀的應(yīng)用實(shí)例:

      ANOTEST® YMP 30-S測(cè)試鋁上陽(yáng)極氧化膜的致密性,致密性是衡量材料抵抗天氣變化能力的重要參數(shù)。儀器通過(guò)可選的電子參考物質(zhì)校準(zhǔn)。

       

      YMP30-S可以測(cè)量:

      1)陽(yáng)極氧化膜導(dǎo)納Y 的范圍為3—300s

      2)測(cè)量方法遵循標(biāo)準(zhǔn)DIN EN 12 373-5

      應(yīng)用領(lǐng)域:

      在建筑物清潔期間現(xiàn)場(chǎng)測(cè)量鋁上陽(yáng)極涂層的密封。
      耐候性
      技術(shù)數(shù)據(jù)
      標(biāo)準(zhǔn)偏差,平均值,大值和小值測(cè)量系列的統(tǒng)計(jì)學(xué)評(píng)估范圍
      進(jìn)展能力指標(biāo)cpk和cp的計(jì)算
      特征方差分析值的輸出
      圖形測(cè)量顯示為具有高斯貝爾曲線的直方圖


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