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菲希爾X射線FISCHERSCOPE X-RAY XULM240的詳細資料:
品牌 | Helmut Fischer/德國菲希爾 | 價格區間 | 面議 |
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產地類別 | 進口 | 應用領域 | 環保,制藥/生物制藥,綜合 |
菲希爾X射線FISCHERSCOPE X-RAY XULM240
菲希爾X射線測厚儀FISCHER XULM240特點
§ 用途廣泛的鍍層厚度測量儀
§ 通過組合可選的高壓和濾片,可以對較薄的鍍層(如50 nm Au 或 100 μm Sn)和較厚的鍍層進行同樣效果的測量.
§ 配有的微聚焦管,可以測量100 μm大小的微小測量點
§ 比例計數器可實現數千cps(每秒計數率)的高計數率
§ 從下至上的射線方向,從而可以快速簡便的放置樣品。
§ 底部C型開槽的大容量測量艙
菲希爾X射線測厚儀FISCHER XULM240典型應用領域
§ 測量線路板工業中 Au/Ni/Cu/PCB 或 Sn/Cu/PCB中的鍍層
§ 電子行業中接插件和觸點上的鍍層
§ 裝飾性鍍層Cr/Ni/Cu/ABS
§ 電鍍鍍層,如大規模生產零件(螺栓和螺母)上的防腐蝕保護層Zn/Fe,ZnNi/Fe
§ 珠寶和鐘表工業
§ 測量電鍍液中金屬成分含量
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