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      Fischer*臺式測厚儀庫倫測量法

      Fischer*臺式測厚儀庫倫測量法

      更新時(shí)間:2024-09-27
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      Fischer*臺式測厚儀庫倫測量法
      庫侖法測量鍍層厚度和多層鎳電位差,使用COULOSCOPE CMS2和支架V18測量印刷線路板上剩余純錫的厚度,庫侖法是一種簡單易用能夠確定金屬鍍層厚度的電化學(xué)分析方法。這個(gè)方法主要應(yīng)用于檢查電鍍層的質(zhì)量,現(xiàn)在也適用于監(jiān)控印刷線路板剩余純錫的厚度。

      Couloscope CMS2 STEPFischer*臺式測厚儀庫倫測量法的詳細(xì)資料:

      品牌Helmut Fischer/德國菲希爾價(jià)格區(qū)間面議
      應(yīng)用領(lǐng)域電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件

      Fischer*臺式測厚儀庫倫測量法

      CouloScope CMS STEP電解測厚儀簡介:
       德國菲希爾涂層測厚儀CouloScope CMS STEP在電鍍行業(yè)中,對多層鎳鍍層中各自層的同時(shí)的厚度和電極電位的測定變成了一個(gè)越來越重要的需求。的多鍍層組成為不含硫的半光亮鎳層和含硫的光亮鎳層。這兩個(gè)鎳層間足夠的電位差導(dǎo)致了光亮鎳層優(yōu)先腐蝕于半光亮鎳層。這種次序也就延遲了整個(gè)鎳層的穿透速度,并且給了基材相對于單鍍層更好的防腐保護(hù)。 COULOSCOPE® CMS STEP多層鎳測厚儀器根據(jù)庫侖電量分析法進(jìn)行測量,符合 DIN EN ISO 2177、50022 和 ASTM B764標(biāo)準(zhǔn)
       通過電位差測試儀器可以簡便的對鎳鍍層之間的電化學(xué)的電位差進(jìn)行測量。 可以用于測量銅基層、鎳多層涂層和鉻涂層的厚度。
       COULOSCOPE® CMS STEP可以通過定位于電位-時(shí)間表中相關(guān)部分的雙指針來方便地測出鍍層厚度和電位差。這個(gè)圖表能夠外部保存或通過RS232轉(zhuǎn)換到PC電腦中。
       CouloScope CMS STEP電解測厚儀特性:
       吸引人的設(shè)計(jì),大的液晶顯示器和清晰安排的鍵盤。
       操作簡單,菜單指引的操作提示。
       電解區(qū)域直徑從0.6 mm (24 mils) 至3.2 mm (128 mils)。
       大約100個(gè)預(yù)先定義好的應(yīng)用程式適用于大多數(shù)的金屬鍍層,包括測量線材。

      典型應(yīng)用:
      電鍍緊固件
      測試印刷電路板上殘留的純錫含量
      鍍鉻浴室配件
      測量常見的單相以及雙相涂層,如鐵上的ZN或銅上的SN / NI
      金屬涂層的準(zhǔn)確測量厚度品種為0.05 - 50m,不需要預(yù)先設(shè)置幾種材料; 基底組成以及幾何形狀也與測量過程無關(guān)
      測量印刷電路板上純錫的剩余部分,以確保可焊性
      多層涂層,如鐵/塑料(abs)基板上的CR / NI / CU

       

      電位差測厚儀Couloscope CMS2 STEP

      使用5 x 5個(gè)單獨(dú)測量的測試區(qū)域校準(zhǔn)測量系統(tǒng)的標(biāo)準(zhǔn)

      作為測量鍍層厚度zui簡單的方法之一,庫侖法可以用于 各種鍍層組合。 尤其對于多鍍層結(jié)構(gòu), 當(dāng)允許破壞性測 量時(shí),它提供了一個(gè)比 X 射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法。 

      很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可 以用 CMS2 簡單快速地測量。這個(gè)方法為任何金屬鍍層 提供了準(zhǔn)確的測量。在厚度范圍 0.05 - 50 μm 內(nèi), 很多 材料不需要預(yù)設(shè)定;基材組成和幾何形狀對于測量都 是無關(guān)緊要的。 
       
      zui常見的應(yīng)用之一就是測量線路板上剩余的純錫,以確 保可焊性。多鍍層例如 Cr/ Ni/Cu 在鐵或者塑料(ABS) 基材上,經(jīng)常被用于高品質(zhì)的浴室用品,也可以用這個(gè)方法進(jìn)行測量

       


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